顕微鏡
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金属顕微鏡 半導体検査顕微鏡
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オリンパス 半導体検査顕微鏡 MX61L 管理番号11909
【仕様】観察法落射：明視野、暗視野、微分干渉ステージストロークX356㎜×Y305㎜総合倍率50、100、200、500×鏡筒超広視野ティルティング正立三眼鏡筒(MX-SWETTR)接眼レンズSWH10×-H(視野数26.5)照明落射対物レンズUM Plan FL 5×BD、10×BD、LM Plan Fl 20×BD、50×BD（長作動レンズ）その他電動回転式レボルバー（リモコン付属）、微分干渉…
オリンパス 金属顕微鏡 MX50 管理番号11690
【仕様】観察法落射：明視野、暗視野、微分干渉観察透過：明視野※1ステージストロークX200㎜×Y200㎜総合倍率50x、100x、200x、500x鏡筒超広視野ティルティング正立三眼鏡筒接眼レンズ35SWH10x（視野数26.5）照明落射、透過※1対物レンズUM Plan FL5xBDP、10×BDP、20xBDP、50xBDPその他-ステージ8×8右下ハンドルステージ（MX-SIC8R）回転ホル…
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